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产品展示/PRODUCTS
全量程四探针测试仪
工作原理
四探针法,可测微欧到兆欧方阻值量程,采用AD芯片控制,恒流输出, PC软件运行,自动数据测量和系数修正,直读方阻,电阻,电阻率和电导率数据;中文或英文语言版本;具有屏蔽功能;参考美国 A.S.T.M 标准。单晶硅物理测试方法
产品资料1.导电性新材料、铝箔、铜箔、铝涂层、碳纤维材料、电极材料;
2.一般的涂层材料、薄膜、薄片基底材料研究.
3.大学、研究所、R&D部门对新材料宽量程电阻率或电导性能研究使用.
技术参数
规格型号 | FT-3671A经济型 | FT-3671B自动型 |
1.方块电阻范围 | 10^6~2×10^7Ω/□ | |
2.电阻率范围 | 10^7~2×10^8Ω-cm | |
3.测试电流范围 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA, 100nA ,10nA , 1nA | |
4.电流精度 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA±0.1% ; 100nA ,10nA , 1nA±2% | |
5.电阻精度 | 10^2Ω以下量程≤0.5%; 10^2Ω以上量程≤10%; | |
6.PC软件界面操作 | PC软件界面显示:电阻、电阻率、方阻、电导率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、过程图谱,报表生成. | |
7.测试方式 | 手动测量 | 自动测量 |
8.工作电源 | 输入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<100W | |
9.误差 | 小量程≤4%(标准样片结果);大量程≤10% | |
10.校准方式 | 标准电阻和标准样片 | |
11.测试探头 | 探针间距选购: 2mm;3mm两种规格; 探针材质选购:碳化钨针、镀金磷铜半球形针 |
更新时间:2024/4/19 9:06:51
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