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产品分类/CLASS

粉末电阻率测试仪

粉体特性综合测试仪

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产品展示/PRODUCTS

双电测电四探针测试仪

双电测电四探针测试仪
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价格:电议

型号:

采购度:4573    原产地:中国大陆

发布时间:2015/1/14 13:31:44

产品简介:双电测电四探针测试仪采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。

在线询价咨询电话:0574-27976112,0574-27975197

详细信息
 
双电测电四探针测试仪

FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪

FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument

一.描述:

双电测电四探针测试仪采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

.参照标准:

双电测电四探针测试仪硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国家标准设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

.适用范围:

双电测电四探针测试仪适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用AD芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表

双电测电四探针测试仪用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

.型号及参数

规格型

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方块电阻范围

10-52×105Ω/□

10-42×105Ω/□

10-32×105Ω/□

10-32×104Ω/□

10-22×105Ω/□

10-22×104Ω/□

2.电阻率范围

10-62×106Ω-cm

10-52×106Ω-cm

10-42×106Ω-cm

10-42×105Ω-cm

10-32×106Ω-cm

10-32×105Ω-cm

测试电流范围

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100mA

10μA100µA1mA10mA100mA

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100mA

10μA100µA1mA10mA

100mA

0.1μA1μA10μA100µA1mA10mA100mA

1μA10μA100µA1mA10mA100mA

4.电流精度

±0.1%

±0.2%

±0.2%

±0.3%

±0.3%

±0.3%

5.电阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.显示读数

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

普通单电测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10%.50Hz 耗:<30W

9.误差

≤4%(标准样片结果)

10.选购功能

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻

11.测试探头

探针间距选购:1mm2mm3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

 

 

双电测电四探针测试仪 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

温馨提示:半导体材料测量,我们提供四探针法,低阻,高阻,双电组合法,普通单电法,以及高温电阻率测试仪系列,欢迎和我们保持联系---瑞柯仪器

 

 

更新时间:2024/4/19 9:06:49

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